WEKO3
アイテム
Modified PRPG for Test Data Reduction Using BAST Structure
https://tokushima-u.repo.nii.ac.jp/records/2012353
https://tokushima-u.repo.nii.ac.jp/records/2012353022b803c-68c1-440d-85d5-8c5953614bd8
名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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Item type | 文献 / Documents(1) | |||||||||||||||||||
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公開日 | 2024-12-11 | |||||||||||||||||||
アクセス権 | ||||||||||||||||||||
アクセス権 | open access | |||||||||||||||||||
資源タイプ | ||||||||||||||||||||
資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||
資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||
出版社版DOI | ||||||||||||||||||||
関連識別子 | https://doi.org/10.2299/jsp.21.125 | |||||||||||||||||||
関連名称 | 10.2299/jsp.21.125 | |||||||||||||||||||
出版タイプ | ||||||||||||||||||||
出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||||
出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||||
タイトル | ||||||||||||||||||||
タイトル | Modified PRPG for Test Data Reduction Using BAST Structure | |||||||||||||||||||
著者 |
Cai, Zheng Hong
× Cai, Zheng Hong
× 四柳, 浩之
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93
× 橋爪, 正樹
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86
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抄録 | ||||||||||||||||||||
内容記述 | In order to reduce the volume of test data, built-in self test (BIST) and BIST-aided scan test (BAST) techniques have been proposed. To provide the test pattern generated by an automatic test pattern generator (ATPG) using BAST, we enhanced the structure of a pseudorandom pattern generator (PRPG) by inserting MUXes and NOT gates in the linear feedback shift register (LFSR) based on correlations of ATPG patterns. The procedures can achieve about 15 to 56% reduction in the volume of test data for BAST. | |||||||||||||||||||
書誌情報 |
en : Journal of Signal Processing 巻 21, 号 4, p. 125-128, 発行日 2017-07-20 |
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収録物ID | ||||||||||||||||||||
収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||||||||
収録物識別子 | 18801013 | |||||||||||||||||||
出版者 | ||||||||||||||||||||
出版者 | Research Institute of Signal Processing | |||||||||||||||||||
備考 | ||||||||||||||||||||
値 | 利用は著作権の範囲内に限られる。 | |||||||||||||||||||
EID | ||||||||||||||||||||
識別子 | 327450 | |||||||||||||||||||
言語 | ||||||||||||||||||||
言語 | eng |