WEKO3
アイテム / Research on Interface State and Reliability of 4H-SiC MOSFETs with Thermal Gate Oxide / k3448_fulltext
k3448_fulltext
| ファイル | ライセンス |
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 k3448_fulltext.pdf (4.4 MB)
sha256
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| 公開日 | 2020-10-05 | |||||
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| ファイル名 | k3448_fulltext.pdf | |||||
| 本文URL | https://tokushima-u.repo.nii.ac.jp/record/2008244/files/k3448_fulltext.pdf | |||||
| オブジェクトタイプ | fulltext | |||||
| フォーマット | application/pdf | |||||
| サイズ | 4.19 MB | |||||
| Version | Date Modified | Object File Name | File Size | File Hash Value | Contributor Name | Show/Hide |
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