WEKO3
アイテム
ディレイテスト可能なバウンダリスキャン設計手法
https://tokushima-u.repo.nii.ac.jp/records/2012328
https://tokushima-u.repo.nii.ac.jp/records/20123288a993b50-195d-402c-af41-0f26bb72fff5
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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jiep_24_7_663.pdf (916KB)
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| Item type | 文献 / Documents(1) | |||||||||||||||||
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| 公開日 | 2024-12-11 | |||||||||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||
| 出版社版DOI | ||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.5104/jiep.24.663 | |||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| 関連名称 | 10.5104/jiep.24.663 | |||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||
| タイトル | ディレイテスト可能なバウンダリスキャン設計手法 | |||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| タイトル別表記 | ||||||||||||||||||
| その他のタイトル | Delay Testable Design Using Modified Boundary Scan | |||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||
| 著者 |
四柳, 浩之
× 四柳, 浩之
WEKO
93
× 橋爪, 正樹
WEKO
86
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| 書誌情報 |
ja : エレクトロニクス実装学会誌 en : Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging 巻 24, 号 7, p. 663-667, 発行日 2021-11-01 |
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| 収録物ID | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 13439677 | |||||||||||||||||
| 収録物ID | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 1884121X | |||||||||||||||||
| 収録物ID | ||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA11231565 | |||||||||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||||||||
| 出版者 | エレクトロニクス実装学会 | |||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||
| EID | ||||||||||||||||||
| 識別子 | 384082 | |||||||||||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||||||||
