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  1. 学内刊行物
  2. 大学院ソシオテクノサイエンス研究部研究報告
  3. 53
  1. 資料タイプ別
  2. 紀要論文

多層配線LSIの断線故障検査に関する研究

https://tokushima-u.repo.nii.ac.jp/records/2001114
https://tokushima-u.repo.nii.ac.jp/records/2001114
e4b5fc5e-d6c3-4b0f-8da7-1f6aaffb2503
名前 / ファイル ライセンス アクション
EID189147.pdf EID189147.pdf (1.93 MB)
Item type 文献 / Documents(1)
公開日 2011-03-03
アクセス権
アクセス権 open access
資源タイプ
資源タイプ識別子 http://purl.org/coar/resource_type/c_6501
資源タイプ departmental bulletin paper
出版タイプ
出版タイプ VoR
出版タイプResource http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85
タイトル
タイトル 多層配線LSIの断線故障検査に関する研究
タイトル
タイトル タソウ ハイセン LSI ノ ダンセン コショウ ケンサ ニ カンスル ケンキュウ
タイトル別表記
その他のタイトル On testing of open faults in multi-layered wiring LSIs
著者 四柳, 浩之

× 四柳, 浩之

WEKO 93
徳島大学 教育研究者総覧 10737/profile-ja.html
e-Rad_Researcher 90304550

ja 四柳, 浩之
ISNI

ja-Kana ヨツヤナギ, ヒロユキ

en Yotsuyanagi, Hiroyuki

Search repository
橋爪, 正樹

× 橋爪, 正樹

WEKO 86
徳島大学 教育研究者総覧 10725/profile-ja.html
e-Rad_Researcher 40164777

ja 橋爪, 正樹
ISNI

ja-Kana ハシヅメ, マサキ

en Hashizume, Masaki

Search repository
抄録
内容記述 Open faults are difficult to test since the floating wire occurred by an open fault has unstable
voltage. In this work, the effect of adjacent lines around an open fault in multi-layered wiring LSIs
is discussed. To observe the relation between an open fault and the adjacent lines, a 0.35μm CMOS
IC is designed and fabricated. The open fault macros with a transmission gate and with an
intentional break are included in the IC. The adjacent lines in the same layer and the different layers
are placed in the test chip. The simulation and experimental results show that the voltage at the
floating wire is affected by the adjacent lines.
キーワード
主題 testing
キーワード
主題 open faults
キーワード
主題 VLSI
キーワード
主題 multi-layered wiring
キーワード
主題 adjacent lines
書誌情報 ja : 徳島大学大学院ソシオテクノサイエンス研究部研究報告

巻 53, p. 16-20, 発行日 2008-05-30
収録物ID
収録物識別子タイプ ISSN
収録物識別子 21859094
収録物ID
収録物識別子タイプ NCID
収録物識別子 AA12214889
EID
識別子 189147
言語
言語 jpn
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Ver.1 2024-10-09 10:31:24.975494
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