WEKO3
アイテム
Photon-counting-based diffraction phase microscopy combined with single-pixel imaging
https://tokushima-u.repo.nii.ac.jp/records/2008285
https://tokushima-u.repo.nii.ac.jp/records/200828594755869-d626-4038-9875-14b625bc9aca
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
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jjap_57_4_042501.pdf (944 KB)
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.png)
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| Item type | 文献 / Documents(1) | |||||||||||||||||||||||
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| 公開日 | 2021-02-18 | |||||||||||||||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||||||||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||||||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||||||||||||||
| 出版社版DOI | ||||||||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | DOI | |||||||||||||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.7567/JJAP.57.042501 | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | ja | |||||||||||||||||||||||
| 関連名称 | 10.7567/JJAP.57.042501 | |||||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||||||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||||||||||||||
| タイトル | ||||||||||||||||||||||||
| タイトル | Photon-counting-based diffraction phase microscopy combined with single-pixel imaging | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||||
| 著者 |
シブヤ, キュウキ
× シブヤ, キュウキ
× アラキ, ヒロユキ
× 岩田, 哲郎
WEKO
32
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| 抄録 | ||||||||||||||||||||||||
| 内容記述タイプ | Abstract | |||||||||||||||||||||||
| 内容記述 | We propose a photon-counting (PC)-based quantitative-phase imaging (QPI) method for use in diffraction phase microscopy (DPM) that is combined with a single-pixel imaging (SPI) scheme (PC-SPI-DPM). This combination of DPM with the SPI scheme overcomes a low optical throughput problem that has occasionally prevented us from obtaining quantitative-phase images in DPM through use of a high-sensitivity single-channel photodetector such as a photomultiplier tube (PMT). The introduction of a PMT allowed us to perform PC with ease and thus solved a dynamic range problem that was inherent to SPI. As a proof-of-principle experiment, we performed a comparison study of analogue-based SPI-DPM and PC-SPI-DPM for a 125-nm-thick indium tin oxide (ITO) layer coated on a silica glass substrate. We discuss the basic performance of the method and potential future modifications of the proposed system. | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||||
| 書誌情報 |
en : Japanese Journal of Applied Physics 巻 57, 号 4, p. 042501, 発行日 2018-03-20 |
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| 収録物ID | ||||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 13474065 | |||||||||||||||||||||||
| 収録物ID | ||||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | ISSN | |||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | 00214922 | |||||||||||||||||||||||
| 収録物ID | ||||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||||||||||||||
| 収録物識別子 | AA12295836 | |||||||||||||||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||||||||||||||
| 出版者 | The Japan Society of Applied Physics | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||||
| 権利情報 | ||||||||||||||||||||||||
| 言語 | en | |||||||||||||||||||||||
| 権利情報 | Content from this work may be used under the terms of the Creative Commons Attribution 4.0 license. Any further distribution of this work must maintain attribution to the author(s) and the title of the work, journal citation and DOI. | |||||||||||||||||||||||
| EID | ||||||||||||||||||||||||
| 識別子 | 338037 | |||||||||||||||||||||||
| 識別子タイプ | URI | |||||||||||||||||||||||
| 言語 | ||||||||||||||||||||||||
| 言語 | eng | |||||||||||||||||||||||
