WEKO3
アイテム
チップ間接続の半断線検出のための検査容易化設計手法
https://tokushima-u.repo.nii.ac.jp/records/2012792
https://tokushima-u.repo.nii.ac.jp/records/201279209093d85-2a90-442a-82f8-bae003d6ec53
| 名前 / ファイル | ライセンス | アクション |
|---|---|---|
jiep_26_2_198.pdf (652 KB)
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| Item type | 文献 / Documents(1) | |||||||||||
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| 公開日 | 2025-03-21 | |||||||||||
| アクセス権 | ||||||||||||
| アクセス権 | open access | |||||||||||
| アクセス権URI | http://purl.org/coar/access_right/c_abf2 | |||||||||||
| 資源タイプ | ||||||||||||
| 資源タイプ識別子 | http://purl.org/coar/resource_type/c_6501 | |||||||||||
| 資源タイプ | journal article | |||||||||||
| 出版社版DOI | ||||||||||||
| 関連識別子 | https://doi.org/10.5104/jiep.26.198 | |||||||||||
| 関連名称 | 10.5104/jiep.26.198 | |||||||||||
| 出版タイプ | ||||||||||||
| 出版タイプ | VoR | |||||||||||
| 出版タイプResource | http://purl.org/coar/version/c_970fb48d4fbd8a85 | |||||||||||
| タイトル | ||||||||||||
| タイトル | チップ間接続の半断線検出のための検査容易化設計手法 | |||||||||||
| タイトル別表記 | ||||||||||||
| その他のタイトル | Design for Testability Methods for Detecting Resistive Opens at Chip Interconnects | |||||||||||
| 著者 |
四柳, 浩之
× 四柳, 浩之
WEKO
93
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| 書誌情報 |
ja : エレクトロニクス実装学会誌 en : Journal of The Japan Institute of Electronics Packaging 巻 26, 号 2, p. 198-202, 発行日 2023-03-01 |
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| 収録物ID | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | PISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 13439677 | |||||||||||
| 収録物ID | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | EISSN | |||||||||||
| 収録物識別子 | 1884121X | |||||||||||
| 収録物ID | ||||||||||||
| 収録物識別子タイプ | NCID | |||||||||||
| 収録物識別子 | AA11231565 | |||||||||||
| 出版者 | ||||||||||||
| 出版者 | エレクトロニクス実装学会 | |||||||||||
| EID | ||||||||||||
| 識別子 | 394402 | |||||||||||
| 言語 | ||||||||||||
| 言語 | jpn | |||||||||||
